DIC系統(tǒng)（日本SEIKA品牌）

數(shù)字圖像相關(guān)法（DIC）是一種非接觸式的高精度位移、用于全場形狀、變形、運動測量的方法，也是現(xiàn)代光測量力學(xué)領(lǐng)域內(nèi)最有應(yīng)用前景的測量方法。其應(yīng)用研究方向，正朝著從常規(guī)材料到新型材料的測量，從彈性問題測量到強塑性問題的測量，從常溫到高溫的測量，從宏觀測量到微觀測量的趨勢發(fā)展。DIC方法在上世紀80年代初被提出，經(jīng)過30多年眾多學(xué)者的研究，技術(shù)上已經(jīng)非常成熟。這種方法又被稱為數(shù)字散斑相關(guān)法，它直接處理的對象是具有一定灰度分布的數(shù)字圖像（散斑圖），通過對比材料或者結(jié)構(gòu)表面在變形前后的散斑圖運用相關(guān)算法得到

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Seika公司（中文名：西華數(shù)碼影像公司）作為一家專業(yè)從事智能影像分析系統(tǒng)設(shè)計的高科技公司，在DIC系統(tǒng)的研發(fā)設(shè)計上已有多年經(jīng)驗，并被全球眾多的科研單位及院校所認可（中國獨家代理商：武漢中創(chuàng)聯(lián)達科技有限公司）。我們可以為您提供運用數(shù)字圖像關(guān)聯(lián)法開發(fā)的應(yīng)變解析軟件系統(tǒng)。通過比較分析樣本變形前后的圖像，可以對變形和彎曲的量、方向、分布等進行解析。通過使用本系統(tǒng)，能夠以非接觸的方式獲取物體變形彎曲的數(shù)據(jù)并將其分布可視化。對于高速測量、微米單位測量等特殊環(huán)境下的測量需要，我們可以在包括軟件、相機、照明、專用光學(xué)儀器等各個方面提供綜合性的解決方案。